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TCM(와전류 단일 플랫폼)
ECT

TCM(와전류 단일 플랫폼)

  • 제조사 FOERSTER
  • 모든 와전류 테스트 작업을 위한 단일 플랫폼
  • TCM 플랫폼은 비강자성 재료의 전도도 측정도 지원합니다.
  • 항공, 석유화학, 절전설비, 자동차 산업 등 모든 분야에 적용 가능한 휴대용 와전류 탐상기

제품 설명

 

모든 와전류 테스트 작업을 위한 단일 플랫폼

 

다목적 사용을 위해 설계되었습니다

모바일 테스트에는 다양한 테스트 시스템이 필요한 경우가 많습니다. FOERSTER의 다재다능한 새로운 TCM은 기존 와전류 테스트 제품을 위한 통합 플랫폼 역할을 합니다. 잔류 벽 두께 측정을 위한 DEFECTOSCOP을 이용한 심층 침투 저주파(LF) 테스트와 가장 미세한 균열 감지를 위한 DEFECTOMETER를 이용한 고주파(HF) 테스트가 이제 단일 장치에 통합되었습니다.

TCM 플랫폼은 비강자성 재료의 전도도 측정도 지원합니다. 직관적인 터치 인터페이스를 통해 사용자는 해당 앱을 통해 개별 작업을 선택할 수 있습니다. 자동 프로브 인식 기능을 통해 최적의 테스트 및 측정 매개변수를 설정하여 최상의 결과를 얻을 수 있습니다.

 

사용 가능한 소프트웨어 모듈

  • 결함검사: 회전, HF 및 LF 프로브를 사용한 범용 와전류 검사.
  • SIGMATEST: 비강자성 금속의 전기 전도도를 측정합니다.
  • ECA(Eddy Current Array): 최대 512개 채널의 센서 어레이를 통한 와전류 테스트

 

기술 데이터

표시하다: 8.0인치 터치스크린, 1280 x 800, 800니트, 햇빛 아래에서도 읽기 가능
손가락이나 장갑으로 사용 전환 가능
보호: IP 66, 낙하 높이 1.5m
무게: 1.3kg
차원: 227mm x 150mm x 51mm(길이 x 너비 x 높이)
온도: -20°C ~ +50°C
힘: 배터리 시간: 6시간
카메라: 후면 카메라 8.0MP, 전면 카메라 2.0MP
저장: 128GB SSD
연결 포트: 19핀 LEMO, Thunderbolt 4, USB 3.2 Gen2(C타입), microSD 리더
오디오: 오디오 입력/출력(콤보 잭)
선적 서류 비치: 원시 데이터, 스크린샷, 보고서 저장/내보내기
내장된 도움말: 빠르고 절약된 사용을 위해 모든 설정 및 대화에 대한 정보를 찾아보세요.
언어: 영어, 독일어, 스페인어, 일본어, 중국어, 체코어, 이탈리아어, 프랑스어

 

TCM은 항공, 석유화학, 절전설비, 자동차 산업 등 모든 분야에 적용 가능한 휴대용 와전류 탐상기로

전기 전도도 및 코팅 두께도 측정기 가능터치스크린으로 보다 쉽게 사용할 수 있으며, Bore-hole 전용 Rotating probe도 구성할 수 있습니다.

512 채널의 Eddy Current Array 기능을 통해 결함의 형상 등을 구분 가능합니다.

 

제품사양

화면 8.0″ 터치스크린, 1280 x 800, 800nits 밝기
보호 등급 IP 66
무게 1.3Kg
사이즈 227 x 150 x 20.5mm [L x W x H]
작동온도 -20℃ to +50℃
배터리 작동 시간 6시간
카메라 후면 카메라 : 8.0 MP 화소 / 전면 카메라 : 2.0 MP 화소
저장공간 128 GB SSD
커넥터 19-pin LEMO, Thunderbolt 4, USB 3.2 Gen2 (type C), microSD reader
무선 통신 Wi-Fi 6E, Bluetooth V5.2
운영체제 Windows 10 LTSC (Long Term Service Channel)
언어 English, German, Spanish, Japanese, Chinese, Czech, Italian, French, further languages on request

 

 

<DEFECTOSCOP TCM>

 

범용 와전류 시험을 위한 모바일 시험 장치

 

 

임피던스 평면도에서의 기존 와전류 테스트

DEFECTOSCOP 모듈은 범용 와전류 시험기의 모든 일반적인 매개변수를 사용하고 임피던스 평면에 측정 데이터를 표시합니다. 전문가 모드에서 작업하는 사용자는 사용 가능한 매개변수 목록을 쉽게 사용자 지정하고 테스트 프로그램에 저장할 수 있습니다. 또한, 즐겨찾기를 정의하여 다음 번 모듈 실행 시 빠르게 시작할 수 있습니다. 전문가 모드에서 운영자 모드로 전환하면 매개변수 목록과 시스템 설정이 편집을 위해 고정되므로 시간과 노력을 절약할 수 있습니다.

선택적으로, 테스트 프로그램에 여러 주파수를 추가하여 서로 다른 와전류 침투 깊이에서 병렬 테스트를 수행할 수 있습니다. 주파수의 색상 표현은 원하는 대로 조정할 수 있습니다.

회전하는 부품이나 휴대용 회전 프로브의 녹화 영상을 고해상도 C-스캔에 직접 표시하여 테스트 영역을 쉽게 평가하고 완벽하게 문서화할 수 있습니다. 또는 와전류 신호의 원시 데이터를 기록하여 나중에 워크스테이션 컴퓨터에서 평가할 수 있도록 내보낼 수도 있습니다.

 

한눈에 보는 제품의 장점

  • 회전, HF, LF 응용 프로그램 등을 이용한 와전류 테스트는자체 센서나 FOERSTER에서 적용한 센서를 사용하여 다양한 테스트 작업을 해결합니다.
  • C-스캔:핸드헬드 회전 프로브의 데이터를 고해상도 C-스캔으로 표시할 수 있습니다.
  • 단일 패스에서 불연속성을 확인하기 위해최대 8개 주파수를 사용하는 다중 주파수 검사 또는 주파수 혼합을 통한 간섭 감소
  • 동결된와전류 데이터의 후처리:와전류 신호를 동결한 다음 이득, 위상, 고역 통과 및 저역 통과 필터와 같은 매개변수를 편집합니다.
  • 유연한 프로브 선택: 매개변수, 변압기 또는 브리지 프로브 등 다양한 센서를 연결

 

기술 데이터

주파수 범위: 4Hz ~ 20MHz 1Hz 단위로 조정 가능
다중 주파수: 최대 8개의 주파수를 병렬로
2개의 주파수를 혼합합니다.
최대 출력 전류: 400mA(피크)
차트: x/y, t, x/y + t, C-스캔
임계값: 선, 원, 상자, 부채꼴
동결 모드: 신호를 동결하고 이득 및 위상과 같은 매개변수를 조정합니다.

 

<SIGMATEST TCM>

 

비강자성 금속의 전기 전도도를 측정하는 차세대 휴대용 미터

 

정확하고 신뢰할 수 있는 전도도 측정

 

전도도 측정은 재료의 물리적 및 기술적 특성을 결정합니다. 제조된 제품의 품질 관리에 이상적인 SIGMATEST는 재료 조성 시험 및 금속, 합금, 스크랩 분류에도 유용합니다. 항공기 정비 중 열 손상 감지 및 금속 산업 생산 공정 제어 등 다양한 용도로 활용될 수 있습니다.

SIGMATEST 모듈은 FOERSTER 교정 실험실에서 20°C의 추적 가능한 전도도 표준(PTB/NIST 또는 NPL)으로 교정된 특수 전도도 프로브와 함께 사용됩니다. 교정 데이터는 센서에 저장되고 TCM에서 검색됩니다. 이를 통해 정확한 전도도 측정이 가능합니다.

터치 한 번으로 단일 측정이 가능합니다. 표면 스캔이 필요한 경우, 측정값을 연속 출력하고 시간 다이어그램으로 표시할 수 있습니다.

 

한눈에 보는 제품의 장점

  • 넓은 주파수 범위로다양한 재료 두께 측정이 가능합니다.
  • 차폐된 프로브는에지 효과를 방지하는 데 도움이 됩니다.
  • 마모 감소:내구성 있는 티타늄 보호 기능이 있는 특수 설계 프로브로 긴 서비스 수명이 보장됩니다.
  • 간편한 취급:프로브 자동 인식 및 올바른 교정 곡선 로딩

 

기술 데이터

빈도: 60, 120, 240, 480kHz
정확성: 60kHz, 14mm 프로브에서 측정된 값의 +/- 0.7%
해결: 측정값의 +/- 0.1%
범위: 0.5~65MS/m(1~112% IACS)

 

<ECA TCM>

 

대형 표면 테스트를 위한 범용 와전류 테스트 확장

 

센서 어레이를 사용한 와전류 테스트

스캔할 영역이 넓을 경우, 기존의 와전류 검사는 시간이 많이 소요될 수 있습니다. 또한, 수동 프로브 가이드로 인해 일부 영역이 검사되지 않을 위험이 있습니다. ECA 모듈을 사용하면 대면적 프로브와 형상 매칭 어레이 프로브를 모두 사용할 수 있습니다. 이를 통해 넓은 영역을 빠르고 포괄적으로 스캔할 수 있습니다.

예를 들어 어레이 프로브는 하우징 내부에 여러 개의 개별 센서가 일렬로 배열된 구조입니다. 이러한 방식으로 여러 센서를 연결하면 각 센서의 해상도로 더 넓은 영역을 스캔할 수 있습니다.

 

한눈에 보는 제품의 장점

  • 최대 512개의 프로브 요소 배열을 병렬로 사용하여대면적 테스트
  • 간편한 취급:프로브 자동 감지 및 관련 하드웨어 매개변수 설정
  • 결함의 위치 파악:위치적으로 정확한 결함 감지를 위한 공간적으로 분해된 와전류 데이터
  • 100% 문서화:와전류 이미지를 PNG 또는 PDF로 저장할 수 있습니다.
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