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USIPxx

USIPxx

  • 제조사 WAYGATE TECHNOLOGIES(BAKER HUGHES)
  • 이전 GE Inspection Technologies였던 Waygate Technologies는 NDT 솔루션 분야의 글로벌 리더로, 품질, 안전, 생산성 분야에서 125년이 넘는 경험과 역사를 보유하고 있습니다.
  • 시스템 설비
  • 초음파 검사기용 USIP|xx 전자 플랫폼은 광범위한 초음파 검사 시스템에 필요한 작동 전자 장치를 제공합니다.
  • 수집된 검사 데이터를 매우 빠른 속도로 처리하여 탁월한 검출 확률(POD)로 빠른 온라인 검사를 제공합니다.

제품 설명

 

초음파 검사기용 USIP|xx 전자 플랫폼은 광범위한 초음파 검사 시스템에 필요한 작동 전자 장치를 제공합니다.

수집된 검사 데이터를 매우 빠른 속도로 처리하여 탁월한 검출 확률(POD)로 빠른 온라인 검사를 제공합니다.

 

  • 최첨단 검사 요구 사항을 충족하도록 설계
  • 생산성 최대 5배 향상
  • 랙당 최대 768개의 병렬 위상 배열 채널을 처리하여 포괄적인 위상 배열 작동 제공
  • 이더넷 연결 모듈을 사용하여 Control-PC와의 통신을 위한 높은 데이터 처리량 보장
  • 2D 매트릭스 프로브를 포함한 기존 또는 위상 배열 트랜스듀서와 함께 사용 가능
  • Interbus를 통한 신호 교환을 통해 사용자의 개별 환경에 쉽게 통합 가능
  • 모듈식 설계로 유지 관리 용이
  • 아키텍처를 통해 후속 평가 및 향후 업그레이드를 위한 원시 데이터 액세스 용이

 

USIP|xx Specifications

 

USIP|xx

 

Configuration

  • 64 channels per board
  • Up to 768 channels in a rack
  • Up to 8 racks connected together

 

Pulsers

  • 25 V to 200 V supply voltage, adjustable in 5 V steps
  • Negative rectangle
  • Adjustable width 20 ns to 1000 ns in 5 ns steps
  • Max. PRF 20 KHz
  • Adjustable delay 0 – 80 μs in 2.5 ns steps

 

Receivers

  • 4 Vpp input voltage
  • 0.5 – 15 MHz bandwidth (-3 dB)
  • 80 dB dynamic range (per channel)
  • Delay 0–80 μs in 5 ns steps

 

Digitizers

  • Sampling frequency of 50 MHz
  • Up-sampling up to 400 MHz
  • 20 bits amplitude/channel; up to 24 bit for formed beam

 

Interfaces

  • External PRF input
  • 4 x encoders + 2 Index
  • Up to 8 x 128 TDR, 32GPIO, 3 x Interbus
  • 3 x light barrier inputs
  • Gigabit Ethernet to PC

 

Phased Array

 

features

  • Focusing, steering and scanning
  • Aperture size from 1 to 256 elements
  • Memory sub-cycles (no firing) with water path

 

suppression (Paint Brush)

  • Pulse echo, Through-transmission, Pitch-catch
  • Up to 4096 cycles

 

 

Data stream and evaluation

  • Up to 8 parallel evaluations per board and per cycle
  • Up to 8 status A-Scans (512 pts) with echo-max
  • Data A-Scan with 400 MHz sampling rate (max. 4096 samples)
  • Raw A-Scan with 50 MHz sampling rate (max. 32.000 samples)
  • 5 gates including Interface trigger gate, measurement resolution 2,5 ns
  • Individual gain per gate (Local Gain)
  • 128 evaluation channels per board
  • 512 delay law sets per board

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